特性の ナノタングステン粉末

3種類の タングステン粉末 作製した 水素還元 サンプルとして使用された低溫度、3つの前駆體粉末と、當(dāng)時(shí)のことを特徴とした Brunauer -エマーテラー (BET) メソッド,走査電子顕微鏡法 (SEM), 送信電子顕微鏡 (TEM), 小角X線散亂 (SAXS), と電界放出走査型電子顕微鏡 (FESEM) であった。結(jié)果は、ベットとSEMはナノ粉末の粒子サイズを特徴づけることができませんでしたが、彼らが援助の重要な手段ある非ナノメートル粉末を除外することがわかった。 TEMとFESEMは直接の粒子サイズを測(cè)定できる ナノ粉末, これは、平均粒徑と粒子徑分布をカウントする多くの時(shí)間を必要とします。小角X線散亂は、集積の狀態(tài)を記述することができませんでした。 FESEMと散亂、粒徑、粒徑分布、とナノ粉末の粒子形狀の組み合わせでは正確を特徴とすることができます。